專注、創(chuàng)新、認(rèn)真、專業(yè)

 貝拓科學(xué)攜旗下光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x、白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)x、表面張力儀、顯微拉曼光譜儀、手持式拉曼光譜儀及納米粒度儀，在上海慕尼黑上海分析生化展正式亮相！

讓我們來看看上海慕尼黑上海分析生化展的現(xiàn)場(chǎng)吧！

展會(huì)期間，貝拓科學(xué)的產(chǎn)品也得到了行業(yè)人士的關(guān)注和認(rèn)可！

貝拓接觸角測(cè)量?jī)xDSA-X PLUS

應(yīng)用：

●評(píng)價(jià)表面處理的效果

●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究

●塑料、玻璃、陶瓷、紙張等材料的潤(rùn)濕性測(cè)試

●半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量控制

●表面潔凈度測(cè)試

功能：

●動(dòng)靜態(tài)接觸角測(cè)量

●固體表面自由能及其組成的計(jì)算

●懸滴法測(cè)量液體的表面/界面張力

●計(jì)算及分析粘附功

●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究

白光干涉測(cè)厚儀

白光干涉儀利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。

納米粒度儀

特點(diǎn)

1、 采用光子計(jì)數(shù)級(jí)的高精度光電倍增管。暗計(jì)數(shù)低、光纖耦合，高速，高穩(wěn)定性。

2、 采用集成的光子相關(guān)器。基于FPGA的光子相關(guān)器，集成雙通道光子計(jì)數(shù)器，確保光子無遺漏；1000個(gè)物理通道，提供充足的測(cè)量數(shù)據(jù)；小100ns采樣時(shí)間，確保低至1nm顆粒的測(cè)量；芯片內(nèi)模塊集成設(shè)計(jì)，保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。

3、 準(zhǔn)確的溫控系統(tǒng)。基于PWM的高精度溫控系統(tǒng)，精度達(dá)到0.5°C，確保測(cè)量準(zhǔn)確。

而貝拓科學(xué)的現(xiàn)場(chǎng)工作人員本著專業(yè)、認(rèn)真和周到的服務(wù)，認(rèn)真的解答的前來咨詢客戶的問題，使得我們的展位客戶絡(luò)繹不絕，成為展會(huì)上一到亮麗的風(fēng)機(jī)線！

貝拓學(xué)科在此再次感謝新老客戶的信任與支持!