白光干涉測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過(guò)試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。
白光干涉測(cè)厚儀的功能：
●采用了磁性測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
●可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；
●可采用基本校準(zhǔn)修正法對(duì)測(cè)頭系統(tǒng)誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測(cè)量過(guò)程中的準(zhǔn)確性；
●負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測(cè)試精度；
●操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
●兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
●電池電壓指示：低電壓提示；
●微功耗設(shè)計(jì)，在待機(jī)裝態(tài)不到10微安的電流。
影響白光干涉測(cè)厚儀的測(cè)量精度原因：
(1)覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；
(3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；
(4)對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；
(5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。
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